产品展示
  ·聚焦离子束
  ·显微镜
  ·化学处理
  ·探针台
  ·邦定机
  ·反向提图
联系我们

深圳市华丛科技有限公司

深圳市南山区高新技术产业园中区科文路2号

地铁:深大站A3出口 深圳科技园广场50米

公交:深大北门/科技园

胡小姐:15173182572

邮箱:hy.liu@hc-hc.com

QQ:2631437646 

化学处理 当前位置:首页 - 产品展示
 
产品名称:芯片失效分析用处在哪里?

产品介绍:

失效分析的作用:
失效分析是对已失效的器件进行的一种事后检查,根据需要,使用电测试以及许多先进的物理/金相和化学分析技术,以验证所报告的失效,确定其失效模式,找出失效机理。

失效分析程序应足以得出相应结论,确定失效的原因或相应关系,或者在生产工艺、器件设计、试验或应用方面采取纠正措施,以便消除所报告的失效模式或机理产生的原因或防止其重新出现。

如您有用应用芯片失效分析的需要,欢迎联系我们!
深圳市华丛科技有限公司
深圳市南山区高新技术产业园中区科文路2号
http://www.hc-hc.com/
地铁:深大站A3出口 深圳科技园广场50米
公交:深大北门/科技园
刘小姐:18123967933
高小姐:15014519820
邮箱:hy.liu@hc-hc.com
QQ:2631437646

【上一条】晶圆级芯片封装优势
【下一条】对衬底材料的特性要求
 
 
版权所有 Copyright©2017 深圳市华丛科技有限公司 粤ICP备17039881号
地址:深圳市南山区高新技术产业园中区科文路2号  邮箱:ying.hu@hc-hc.com    高小姐:15014519820 
友情链接:易创互联 深圳市科技创新委员会 老杳吧 集成电路技术创新与应用展 仪器信息网 聚焦离子束论坛