产品介绍：

SEM，即扫描式电子显微镜，为样品表面和近表面提供高解析和长景深的图像。由于能够快速提供详细的图像，SEM目前是最为广泛使用的分析工具之一。SEM常被应用于故障分析、维度分析、制程特性、逆向工程和粒子鉴定。
FIB，聚焦离子束，使用聚焦良好的离子束对样品进行修改并且取得图像。FIB主要是通过SEM、STEM、TEM成像之后，取得非常精确地样品截面或者是执行电路修改。

相较而言，FIB除了可以成像，更多了一个可以修改电路的特性，所以，现在FIB也是在芯片设计以及芯片逆向分析中十分普及。

如您有用应用聚焦离子束的需要，欢迎联系我们！
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