产品介绍：

probe探针台主要应用于复杂的，高速的精密电气测量的研发，旨在确保质量以及可靠性，缩短研发时间，为产品的上市争取宝贵的时间。
应用范围：
1.利用探针（软针，硬针，pico probe针）测试芯片pad信号对FIB引出的十字pad进行电性测量。

2.液晶发-漏电分析，利用夜景感测到IC漏电出分子排列重组，在显微镜下呈现出不同于其他区域的斑状影像，找寻在实际分析中设计人员困扰的漏电区域（超过10mA之故障点）

如您有用探针台做电性分析的需要，欢迎联系我们！
深圳市华丛科技有限公司
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